SPA6100宽量程半导体参数测试仪IV|CV曲线仪配置有多种不同规格的SMU，如低压直流SMU、低压脉冲SMU、大电流SMU；用户可根据测试需求灵活配置不同规格，以及不同数量的搭配。

全“芯”新品！SPA6100半导体参数分析仪，1200V/30A，一键执行测试，超高性价比！模块化集成设计，配置多种不同规格的SMU，可同时进行直流I-V、超快脉冲式I-V、C-V 测试，帮助你实现测试效率与开支的平衡！

产品特点

30μV-1200V，1pA-30A宽量程测试能力

测量精度高，蕞高可达0.1%

内置标准器件测试程序，直接调用测试简便 

自动实时参数提取、 数据绘图、分析函数

在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线

供灵活的夹具定制方案，兼容性强

免费提供上位机软件及SCPI指令集

典型应用：

纳米、柔性等材料特性分析；

二极管；

MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；

第三代半导体材料/器件；

有机OFET器件；

LED、OLED、光电器件；

半导体电阻式等传感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管；

电阻率系数和霍尔效应测量；

太阳能电池；

非易失性存储设备；

失效分析；

普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、插卡式源表、脉冲恒流源、高压程控电源、功率器件静态测试系统、半导体参数分析仪等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。更多有关宽量程半导体参数测试仪IV|CV曲线仪详情找普赛斯仪表专员为您解答一八一四零六六三四七六

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