传感器测试平台电阻式传感器电性能测试数字源表
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利用普赛斯数字源表SMU灵活进行电阻测量
实时测试多种材料在同-环境条件下的电阻值的反应灵敏;
在低电压下进行下高范围跨度(Q、KQ、MQ、GQ)的电阻测量,测试设备输入电阻要求高;
I/N曲线扫描;
上位机实时显示各不同压敏电阻R/t曲线,并可记录存档。
S系列源表+上位机软件
电压范围从300μV~300V,电流从100pA~1A;
输出精度达到0.03%,最大功率可达30W;
能够覆盖0~50GQ之间电阻值的传感器测量

CS1010C+CS100/CS400+上位机软件
插卡式设备: CS1010主机+CS100子卡/CS1010主机+CS400子卡;
通道密度高、同步触发功能强、多设备组合效率高等。

CS1010C+A400采集卡+S100/CS100+上位机软件
CS1010主机+多张A400采集卡+S100或者1张CS100子卡;
A400采集精密电阻(R1)两端的电压值;
所有测试通道采用并联方式统一 由S100/CS100进行供电。

在气敏电阻研究的早期阶段,利用I-V特性分析技术,可以简化用于气体检测系统和分析仪器的传感器合格验证。无论对于新材料、新技术研发还是气敏电阻的生产测试,将I-V特性分析技术用于各种传感器和选择Z佳测试仪器方面,普赛斯都是用户值得信赖的合作伙伴,传感器测试平台电阻式传感器电性能测试数字源表的更多信息一八一四零六六三四七六
武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,率先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、大电流脉冲电源、CS/PXIe系列插卡式源表、功率器件测试设备、半导体参数分析仪等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。
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