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PXIe源表多通道测试硅光芯片电性能

PXIe源表多通道测试硅光芯片电性能

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产品详情

PXIe-5142是4通道独立的PXIe插卡式高性能精密源表,能够同时输出和测量电压电流,蕞大支持30V,1A直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本。详询一八一四零六六三四七六

 

产品特点

四个独立的源测量通道,支持并行测试  

任意一通道蕞大支持±30V/±1A直流扫描/脉冲输出与测量,其他三通道最大支持±30V/±500A直流/脉冲输出与测量

单通道蕞大3W输出/吸收功率,四通道蕞大支持12W

蕞大电流电压分辨率低至10pA/100μV

支持脉冲输出,脉宽低至100μs,占空比0~100%可调

蕞高支持1MS/s采样率,适合高速信号采集和动态测试

支持0.001~100 NPLC积分时间设置,兼顾高速及高精度测量

支持连续、sweep、序列等多种工作模式

支持4通道外同步触发,极性及占空比可调

支持2线、4线测量,具备Guard输出保护

支持标准SCPI指令集,提供完善的驱动及示例代码

 

应用范围

半导体晶圆、芯片特性测试
LD激光器特性测试
太阳能电池充放电、寿命测试
传感器及材料测试

 

 

武汉普赛斯仪表有限公司
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