PXIe插卡式源表多通道iv曲线扫描MEMS传感器电性能
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PXIe-5142是4通道独立的PXIe插卡式高性能精密源表,能够同时输出和测量电压电流,蕞大支持30V,1A直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本。主要用于硅光晶圆、逻辑|模拟IC、光电探测器(含MPPC/SiPM)、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。详询一八一四零六六三四七六
产品特点
四个完全独立的源测量通道,支持并行测试
最大支持±30V/±1A脉冲输出与测量
最大支持单通道3W输出/吸收功率
支持标准SCPI指令集,提供完善的驱动及示例代码
支持脉冲输出,脉宽低至100μs,占空比0~100%可调
支持DIO外部同步触发接口,支持2/4线测量
支持连续、sweep、序列等多种工作模式
最大电流电压分辨率低至10pA/100μV
应用范围
半导体晶圆、芯片特性测试
LD激光器特性测试
太阳能电池充放电、寿命测试
传感器及材料测试
选择武汉普赛斯的理由
普赛斯加入PXISA联盟,依托所掌握的核心技术推出PXIe模块化测试平台,PXIe模块化测试平台以其高带宽、高集成度、产品复用性强等特点深受客户欢迎,经过长期的技术沉淀及软硬件迭代升级,确保生产设计符合PXIe标准的模块化仪器。普赛斯为客户提供全套PXIe测试系统,包含系统卡/远程卡、机箱和各种功能模块板卡,并将持续研发投入,推出更多符合市场需求的功能模块板卡,在此基础上提供测试系统解决方案满足客户需求。
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